芯片测试

 

       支持裸片DC、射频高低温测试，具备-55℃至+300 ℃ 三温在线评价能力；
主要测试指标：S参数、OIP2、OIP3、1dB压缩点、NF、开关时间、自激、饱和输出功率，多种测试环境集成能力；
       全自动测试系统，芯片月测试产能6万颗；
       采用PAT(Part Average Test) 是数据统计测试，筛选出正常测试程序无法侦测的潜在失效品，消除早期失效。
       主要测试设备
探针台、矢量网络分析仪、频谱分析仪、信号源、噪声源、示波器、大功率电源、芯片自动测试机。
矢量网络分析仪/频谱分析仪/高低温探针台/芯片自动测试机